光電測試系統(tǒng)，光電探測器測試系疒統(tǒng)，光子芯片測試，硅光子測試系統(tǒng)爿，光電調(diào)制器，光電探測試器，光功率計，光波元器件分析儀，光接收機(jī)，光譜分析，光測試座，光電芯片測試價格
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 1）光電探測器參數(shù)自動測試系統(tǒng)為易捷測試專門為PD類光電探測器芯片開發(fā)的一套完整集IV、CV、光響應(yīng)度等測試應(yīng)用一站式在片測試系統(tǒng)。主要應(yīng)用于解決PD類芯片的研發(fā)和自動化篩選測試。系統(tǒng)集成的源自于易捷測試在光電模塊、光電器件到封裝以及探針臺領(lǐng)域多年的測試經(jīng)驗(yàn)。
 2）伴隨400G、100G通信的到來，通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件從特征性能都需要極大提高。從芯片到封裝好的器件特征必須通過相應(yīng)的參數(shù)來衡量相應(yīng)的O/E和E/O參數(shù)。如3dB帶寬、S參數(shù)、光波長響應(yīng)度，深圳市易捷測試技術(shù)有限公司，易捷測試技術(shù)，接收靈敏度等。該系統(tǒng)就是集成矢網(wǎng)、光調(diào)制器、光校準(zhǔn)件、探針臺，可對O/E，E/O芯片、封裝好的器件特征參數(shù)進(jìn)行測試
 


 1）B1500A
 2)B2901A
 3)E4980A/AL
 4)N7744A
 5)N4373D
 6)N7786B
 7)ES操作系統(tǒng)
 8）TS2000
 17）PHA-X
 18）G-O4766A
 19）G-OR
 20）G-CCAF
 21）TS3000-Siph
 


 1）半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
 2)電源/測量單元
 3)LCR表
 4)光功率計
 5)光波元器件分析儀
 6)偏振綜合儀
 7)光電探測器參數(shù)自動測試系統(tǒng)
 8）自動探針臺
 9）光學(xué)測試和測量平臺，經(jīng)過優(yōu)化，可以經(jīng)濟(jì)高效地開發(fā)和制造光傳輸網(wǎng)絡(luò)元件。
 10）為光學(xué)器件和子系統(tǒng)開發(fā)和制造中的光學(xué)測試切換和信號調(diào)理提供靈活，主性價比測試平臺
 11）光學(xué)開關(guān)解決方案
 12（光信號調(diào)節(jié)器）
 13（光連接器和無源件測試）
 14（光功率和光譜測量）
 15（光信號交換和路由）
 16（寬帶光源和放大器）
 17（網(wǎng)絡(luò)分析儀）
 18（光調(diào)制器）
 19（光接收機(jī)）
 20（連接的電纜和光纖）
 21(全自動硅光子器件特性專用探針臺系統(tǒng)）

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