菲希爾膜厚儀是結(jié)合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設(shè)計，此儀器是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合國際標準來進行非破壞及不接觸的測量。除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量。至于需要測量電鍍槽內(nèi)的金離子停含量的濃度也是十分簡單。具備手動的測量臺，可移動的范圍是50MM*50MM，不需要打開測量門便可以移動不同測量，更方便操作。

菲希爾膜厚儀采用的測量法特點有以下幾種：

1、不需要先對樣品進行處理便能測量。樣品可以直接放入測量室進行測量，不需特別處理樣品。
2、不需要復(fù)雜、昂貴的儀器來抽真空，便能在正常的環(huán)境下測量從元素Z＝13（鋁）至U＝92（鈾）
3、固體、漿狀及液體的樣本也可以測量。即使是極小不規(guī)則的測量面積也可快速，免接觸的測量。

菲希爾膜厚儀應(yīng)用范圍如下： 
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。 
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 
最多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。 
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。 
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。
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