FXL膜厚測(cè)試儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能優(yōu)越,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.FXL膜厚測(cè)試儀全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選.可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度.

FXL膜厚測(cè)試儀的特征
A：區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多4層及24種元素。 
B ：精確度領(lǐng)先于世界
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求,如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。 
D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品； 
E ：可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)

FXL膜厚測(cè)試儀應(yīng)用方面: 
罩性金屬鍍層厚度測(cè)量，  例如Zn；Cr；  Cu；  Ag；  Au；Sn等  合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測(cè)量，  例如：  SnPb；  ZnNi；  及NiP(無電浸鎳)在Fe上等 
合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測(cè)量，  例如：  AuCuCd在Ni上等 
雙鍍層厚度測(cè)量，  例如：Au／Ni在Cu  上；  Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等 
雙鍍層厚度測(cè)量(其中一層是合金層)，  例如：  SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等 
三鍍層，  例如：  Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上 
金屬成份分析，  最多可以分析四種金屬元素 

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