Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|電橋|LCR測(cè)試儀|惠普

品牌:安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP

★測(cè)量速度:6.5ms/10ms/21ms ★測(cè)量參數(shù):C-D,Q,ESR,G ★C-D測(cè)量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) ★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測(cè)試儀是一臺(tái)高速高可靠的精密測(cè)試儀器，用于生產(chǎn)線和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容器的測(cè)試效率（可測(cè)量以200μF，這個(gè)電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。
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技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量參數(shù)
C-D，Q，ESR，G
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測(cè)試信號(hào)


頻率：
1kHz和1MHz±0.02%
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信號(hào)電平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)

測(cè)量時(shí)間：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）

測(cè)量范圍
測(cè)量參數(shù)
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度

C