儀器簡介
AS-300 積分反射率測試儀是意大利A&S公司生產的高精度快速的反射率測試系統(tǒng)。AS-300 積分反射率測試儀操作使用簡單，測試速度快，測試精度高。
應用領域：
測量不透明,半透明和透明固體反射率光譜。
PV電池片反射率測試
Low-e 玻璃、建筑玻璃反射率光譜測試
真空鍍膜元件、光學元件表面表面反射率測試
FPD 、觸摸屏測試
汽車后視鏡、反射鏡測試
ITO薄膜。 
儀器功能：
*光譜測量 在波長范圍內進行能量的圖譜掃描
*可進行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測、導數(shù)運算、譜圖運算等.
*數(shù)據(jù)輸出 可進行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測量結果以標準通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出
光譜儀主要特點：
-全新設計的優(yōu)良的光學系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.
-設計先進的電路測控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和極低的噪聲. 
-全自動的控制系統(tǒng),先進的設計理念,確保儀器具有高可靠性和高穩(wěn)定性. 
-功能強大的測試軟件，可測量反射率光譜，平均反射率，顏色，最低反射率波長等光學參數(shù)
-寬敞型開放式光源室設計,使燈源更換更加方便
AS-300 反射率測試儀規(guī)格
技術參數(shù)
波長精度：0.2nm
測量誤差：1%以下
單次測量時間：最小100ms
信號接口：USB2.0
操作系統(tǒng)：windows
波長范圍：200-1100nm
數(shù)據(jù)傳輸速率：每4ms 一個全掃描入存儲器
焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出）
光纖連接：SMA905 接口
探測器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um
光學分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇有關）
光源 :           
 波長范圍                       360-2500 nm                          
穩(wěn)定性                            ± 0.1%                               
燈泡功率                      12.7 VDC/ 0.9A                         
燈泡壽命                            2000 hrs