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[供應(yīng)]惠州鍍層厚度涂層厚度檢測(cè)
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：深圳
- 產(chǎn)品品牌：第三方檢測(cè)
- 包裝規(guī)格：商務(wù)服務(wù)
- 產(chǎn)品數(shù)量：0
- 計(jì)量單位：1
- 產(chǎn)品單價(jià)：0
- 更新日期：2019-05-31 13:49:46
- 有效期至：2019-07-01
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惠州鍍層厚度涂層厚度檢測(cè)
詳細(xì)信息
鍍層厚度檢測(cè)-聯(lián)系電話：199-2818-1165
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質(zhì)的檢測(cè)咨詢服務(wù)
鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。檢測(cè)方法有1.金相法2.庫(kù)侖法3.X-ray方法。
金相法：
采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)；厚度越大，誤差越小。
庫(kù)侖法：
適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測(cè)量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測(cè)量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
X-ray方法：
適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。
包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。
本測(cè)量方法可同時(shí)測(cè)量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測(cè)量三層組分的厚度和成分。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1.
GB/T6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法
2.
ASTMB487-85(2007)StandardTestMethodforMeasurementofMetalandOxide
CoatingThicknessbyMicroscopicalExaminationofaCrossSection
3.
ASTMB764-04StandardTestMethodforSimultaneousThicknessandElectrode
Potential
Determination
ofIndividualLayersinMultilayerNickelDeposit(STEPTest)
4.
GB/T4955-1997金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量
5.
GB/T16921-2005金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
6.
ASTMB568-98(2004)StandardTestMethodforMeasurementofCoatingThicknessby
X-RaySpectrometry
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