太陽(yáng)能電池組件EL測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)進(jìn)口關(guān)鍵部件：采用原裝進(jìn)口紅外相機(jī)，保證了設(shè)備的整體品質(zhì)。全封閉式光路設(shè)計(jì)：封閉式光路設(shè)計(jì)可保證設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)，更好的適應(yīng)不同的使用環(huán)境強(qiáng)大專用測(cè)試軟件：全中文顯示界面，可自動(dòng)手動(dòng)掃描圖形碼編號(hào)并按編碼進(jìn)行文件保存。可放大掃描圖像顯示細(xì)節(jié)，方便判斷。應(yīng)用范圍該設(shè)備用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。
設(shè)備主要參數(shù)
型號(hào)規(guī)格 EL140S-M
有效測(cè)試面積 1200mm X 2100mm
分辨率 140萬像素或600萬像素
靈敏度 可檢測(cè)出裂紋寬度小于0.2μm
測(cè)試時(shí)間 1s—60s自由設(shè)定
測(cè)試方式 無接觸式
電源參數(shù) 單相220V 10A 最大加載電壓80V，最大加載電流 10A
配置 測(cè)試機(jī)臺(tái)（含紅外成像儀）、電腦、專業(yè)軟件

缺陷檢測(cè)原理
電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長(zhǎng)度：
對(duì)太陽(yáng)能電池加載電壓后，使之發(fā)光，再利用紅外成像儀攝取其發(fā)光影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長(zhǎng)度，缺陷處因具有較低的少子擴(kuò)散長(zhǎng)度而發(fā)出較弱的光，從而形成較暗的影像。
有效定位缺陷類型：
通過對(duì)產(chǎn)品缺陷圖像的觀察，可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片、擴(kuò)散、刻蝕、印刷、燒結(jié)等工藝過程存在的問題
聯(lián)系人：陶小姐15671696583 027-59722666-8013

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