EL缺陷測(cè)試儀 組件測(cè)試儀 太陽(yáng)能電池組件測(cè)試?                       
(SMT-A / SMT-B / SMT-F)
產(chǎn)品特點(diǎn)：
?????該設(shè)備專(zhuān)門(mén)用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。
?????通過(guò)模擬太陽(yáng)光譜光源，對(duì)電池組件的相關(guān)電參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。
??????獨(dú)有的校正裝置，輸入補(bǔ)償參數(shù)，進(jìn)行自動(dòng)/手動(dòng)溫度補(bǔ)償和光強(qiáng)度補(bǔ)償，具備非接觸式自動(dòng)測(cè)溫與溫度修正功能。
???????基于Windows的操作界面，測(cè)試軟件人性化設(shè)計(jì)，記錄并顯示測(cè)試曲線(xiàn)（I-V曲線(xiàn)、P曲線(xiàn)）和測(cè)試參數(shù)（Voc、Isc、Pmax、Im、Vm、FF、EFF、Temp），測(cè)試結(jié)果語(yǔ)音提示，序列號(hào)自動(dòng)生成，保存到指定文件夾。
?技術(shù)參數(shù)：?
?
型號(hào)規(guī)格 SMT-A SMT-B SMT-F
光譜范圍 符合IEC60904-9要求（A級(jí)）
輻照強(qiáng)度 100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)
輻照不均勻度 ≤±2% ≤±3% ≤±2%
輻照不穩(wěn)定度 ≤±2% ≤±3% ≤±2%
測(cè)試結(jié)果一致性 ≤±0.5% ≤±1% ≤±0.5%
電性能測(cè)試誤差 ≤±1% ≤±2% ≤±1%
單次閃光時(shí)間 10ms 10ms 10ms
有效測(cè)試面積 1200mm×2000mm
有效測(cè)試范圍 10W~300W
測(cè)量電壓 1V~10V(分辨率1mV)
測(cè)量電流 100mA~20A(分辨率1mA)
測(cè)試參數(shù) Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp
數(shù)據(jù)采集 含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域：
專(zhuān)門(mén)用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。