金屬鍍層厚度采取的測(cè)試方法有：

1、光學(xué)顯微鏡法

2、庫(kù)侖法

3、X射線熒光法（XRF）

其他的金屬鍍層測(cè)試有

1、鍍鋅、鍍鋁鋅量測(cè)試

2、鍍鋁量測(cè)試

3、磷化物轉(zhuǎn)化膜重量測(cè)試

4、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度（重量法）

5、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜封孔質(zhì)量

6、剪切試驗(yàn)

7、杯突試驗(yàn)

鍍層厚度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

1、 光學(xué)顯微鏡法包括：1.GB/T 6462-2005

                     2.ASTM B487-07

                     3.ISO 1463-2003

                     4.EN ISO 1463-2004

                     5.JIS H8501-1999

2. 庫(kù)侖法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)包括：1.ASTM B504-07

                        2.GB/T 4955-2005

                        3.ISO 2177-2003

                        4.DIN EN ISO2177-2004

                        5.JIS H8501-1999

3. X射線熒光法（XRF）檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T 16921-05

                                2.ISO 3497-2000

                                3.DIN EN ISO 3497-2001

                                4.ASTM B568:1998