產(chǎn)品名稱：CMI900-鍍層測厚儀   服務(wù)熱線：13712542526

 電鍍層測厚儀，鍍層測厚儀，鎳層測厚儀，元素分析儀，X射線熒光測厚儀CMI900 是一款性價(jià)比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。

涂鍍層厚度測量和/或成分分析，元素范圍 Ti - U 

可同時(shí)進(jìn)行多達(dá)15層元素成分分析 

測量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987



CMI900-鍍層測厚儀 技術(shù)參數(shù)： 



CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)

A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層

（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測定最多5層、15 種元素。

B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0。025um (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)

C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ；

如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。

D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；

E ：可測量任一測量點(diǎn)，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米  http://www.zhengyee.com