XT-150D克服了模擬晶體阻抗計(jì)功能單一、可靠性差，讀數(shù)不直觀的缺點(diǎn)，采用最新技術(shù)，自帶頻率和頻差（ppm）測(cè)量功能，等效電阻，負(fù)載電容和靜電容數(shù)字化顯示?？梢栽O(shè)定頻差上下限，對(duì)合格品，儀器會(huì)語(yǔ)音告知測(cè)試者，減輕了勞動(dòng)強(qiáng)度，提高了工作效率，是一項(xiàng)高品質(zhì)的智能化產(chǎn)品。 主要測(cè)試項(xiàng)目： 1．晶體的串聯(lián)諧振頻率FS。 2．晶體的負(fù)載諧振頻率FL。 3．晶體的串聯(lián)諧振電阻RR。 4．晶體的負(fù)載諧振電阻RL。 5．晶體的靜電容C0。 6．晶體的負(fù)載電容CL。 7．晶體的頻差ppm或KHz。 技術(shù)指標(biāo)： 1．晶體頻率測(cè)量范圍：3―――６０ＭＨｚ。 2．等效電阻測(cè)量范圍：０―――２００Ω。 3．靜電容測(cè)量范圍：　０―――２０ＰＦ。 4．負(fù)載電容的調(diào)整范圍：１０―――４０ＰＦ。 5．激勵(lì)電平的調(diào)整范圍：１０―――５００ｕＷ。 6．晶體等效電阻的測(cè)量誤差：≤５％。 7．激勵(lì)電平誤差：　　　　　≤５０％。 8．工作溫度范圍：　?。保胆D――＋３５℃。 9．時(shí)基穩(wěn)定度（10MHz）：5×10-7 10．電源電壓：　　?。玻玻埃謅c?。保埃?。 11．功耗：≤１５W。