NRIO02

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銷售部洪先生：18965131356（微信同號(hào)）固話：0592-5072236QQ：1665532815

帶程序的芯片 
     
    1.eprom芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序， 
     
    故在測試中不會(huì)損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致，隨著 
     
    時(shí)間的推移(年頭長了)，即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 
     
    盡可能給以備份. 
     
    2.eeprom，sprom等以及帶電池的r *** m芯 *** ，均極易破壞程序.這類芯片 
     
    是否在使用<測試儀>進(jìn)行vi曲線掃描后，是否就破壞了程序，還未有定 
     
    論.盡管如此，同仁們?cè)谟龅竭@種情況時(shí)，還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過 
     
    多次試驗(yàn)，可能大的原因是:檢修工具(如測試儀，電烙鐵等)的外殼漏電 
     
    所致. 
     
    3.對(duì)于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來. 
     
    二.復(fù)位電路 
     
    1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時(shí)，應(yīng)注意復(fù)位問題. 
     
    2.在測試前最好裝回設(shè)備上，反復(fù)開，關(guān)機(jī)器試一試.以及多按幾次復(fù) 
     
    位鍵. 
     
    三.功能與參數(shù)測試 
     
    1.<測試儀>對(duì)器件的檢測，僅能反應(yīng)出截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū).但不 
     
    能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等. 
     
    2.同理對(duì)ttl數(shù)字芯片而言，也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 
     
    法查出它的上升與下降沿的速度.

銷售部洪先生：18965131356（微信同號(hào)）固話：0592-5072236QQ：1665532815

DI620 
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DAI04
DSQC505
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H-AAIRA8608 
TAI16
H-AAIRA8608TAI16
DARA1001
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3BSE013224R1
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CI810V1 
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HENF105296R0001
07KT98H1 
GJR5253100R4278
07KT98H0 
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DSPC155/57310001-CX 
DSPC-155
57310001-CX 
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57310001-KD
DSQC504 
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IMASM-02
IMASO11
3BSE008518R1
DAO01
6204BZ10100D
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INLIM03
DSSB146