安捷倫HP4291B阻抗分析儀


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HP4291B主要特性與技術(shù)指標(biāo) 
4個(gè)元件測(cè)試夾具（被測(cè)件尺寸：0.5mm至20mm） 
HP4291B獨(dú)立選擇2個(gè)通道的參數(shù) 
直接讀取介電常數(shù)、導(dǎo)磁率（選件） 
2個(gè)材料夾具（工作溫度：-55至+200攝氏度） 
多功能分析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時(shí)間） 
掃描參數(shù)（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）
HP4291B描述 
Agilent4291B射頻阻抗/材料分析儀是針對(duì)表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測(cè)量的完整解決方案。與反射測(cè)量技術(shù)不同，Agilent4291B使用直接的電流－電壓測(cè)量技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測(cè)量結(jié)果。
基本阻抗精度是+/-0.8%。高Q精度有利于進(jìn)行低損耗元器件分析。內(nèi)置合成器掃頻范圍從1MHz到1.8GHz，具有1MHz的分辨率。1.8米長(zhǎng)的精密電纜可將分析儀連接到測(cè)試站，以便您將測(cè)試點(diǎn)延伸到分析儀之外，而不會(huì)影響測(cè)量精度。先進(jìn)的矩陣和錯(cuò)誤補(bǔ)償功能消除了夾具的測(cè)量錯(cuò)誤，確保DUT/MUT的高精度和可重復(fù)性。