絕緣材料介質(zhì)損耗測試儀是依據(jù)國標(biāo)GB/T1409-2006、GB/T1693-2007、美標(biāo)ASTMD150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作，并符合JB7770等試驗方法。

一、    絕緣材料介質(zhì)損耗測試儀概述

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)，可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點自動設(shè)定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至最低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

絕緣材料介質(zhì)損耗測試儀用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

二、絕緣材料介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)指標(biāo)

    1．Q值測量

    a．Q值測量范圍：2～1023。

    b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

  c．標(biāo)稱誤差

頻率范圍

20kHz～10MHz；

固有誤差

≤5％±滿度值的2％；

工作誤差

≤7％±滿度值的2％；

頻率范圍

10MHz～60MHz；

固有誤差

≤6％±滿度值的2％；

工作誤差

≤8％±滿度值的2％。

2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H

3．電容測量：1~ 460

直接測量范圍

1～460pF

主電容調(diào)節(jié)范圍

準(zhǔn)確度

30～500pF

150pF以下±1.5pF；

150pF以上±1％

      注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則

  4．信號源頻率覆蓋范圍

頻率范圍

10kHz～50MHz

頻率分段

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