臺(tái)式XRF射線熒光分析儀X-Strata920

概述：

深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器指定中國總代理商!XRF射線熒光分析儀X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設(shè)備。利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。

X-Strata鍍層測厚儀是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。

X-Strata920 在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測量。

X-Strata920 為這些行業(yè)提供了：

以更有效的過程控制來提高生產(chǎn)力

有助電鍍過程中的生產(chǎn)成本最小化、產(chǎn)量最大化

快速無損地分析珠寶及其他合金

快速分析多達(dá)4層鍍層

操作簡單，只需要簡單的培訓(xùn)

無損分析：無需樣品制備

經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性，確保每年都帶來收益

分析只需三步驟

杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性

在鍍層測厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗(yàn)

鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強(qiáng)大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測量，保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。

卓越的性能：

快速、精確的分析：大面積正比計(jì)數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強(qiáng)度大、斑點(diǎn)小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供最佳靈敏度

簡單的元素區(qū)分：通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜

性能優(yōu)化，可分析的元素范圍大：X-Strata920 預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法

卓越的長期穩(wěn)定性：

自動(dòng)熱補(bǔ)償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩(wěn)定的測試結(jié)果

例行進(jìn)行簡單快 速的波譜校 準(zhǔn)，可自 動(dòng)檢查儀器性能（例如靈敏性）并進(jìn)行必要的修正

堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)

可在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作

堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì)

運(yùn)用領(lǐng)域行業(yè)：

電子行業(yè)

電子、電氣原件
有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力

確保元件可靠性

同時(shí)測量焊料合金成份和鍍層厚度

優(yōu)化質(zhì)量控制，確保產(chǎn)品生命期
例如：

分析導(dǎo)電性鍍層金和鈀的厚度

測量電腦硬盤上的NiP層厚度

五金電鍍行業(yè)

電鍍處理的成本最小化，產(chǎn)量最大化

快速簡單的分析

同時(shí)進(jìn)行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析

最多可分析4層鍍層

鍍液成份分析

金屬合金行業(yè)

金屬合金成份分析和牌號認(rèn)定
珠寶及其他合金的快速無損分析

貴金屬合金分析

黃金純度分析

材料鑒定

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：

三種配置選項(xiàng)

固定樣品臺(tái)

樣品臺(tái)位置固定

經(jīng)濟(jì)、實(shí)用

平面樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，適合高
度不超過1.3"(33mm)的樣
品分析

加深樣品臺(tái)

高度每英寸(25.4mm)可
調(diào)，架構(gòu)式樣品艙可容納
最大高度6.3"(160mm)的
樣品

程控樣品臺(tái)

用于自動(dòng)化測量

方便根據(jù)測試位置放置樣品，
并精準(zhǔn)定位測量點(diǎn)

樣品臺(tái)尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)

程控臺(tái)移動(dòng)距離：7" x 7"，
即178mm x 178mm

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