德國FISCHER菲希爾X射線熒光光譜儀 華東總代理—供應(yīng)商、廠家、特點、詳細說明：
      材料分析－FISCHERSCOPE? GOLDLINE ASSAY
        X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應(yīng)用于鍍層厚度測量，同時也適于進行元素分析。
      可以對幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。FISCHERSCOPE? X-Ray XAN? 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀，它可以對未知材料進行簡單，快速而精確的分析。分析范圍從鋁（Al)到鈾（U），即使含量很小也可以測量。
      這些獨特的儀器之所以具有如此強大的性能，是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM? V6軟件。
      如果與應(yīng)用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE? GOLDLINE ASSAY的一部分－－珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無損和精確測量金含量的理想設(shè)備。
      1、XAN? 120X射線光譜儀
      貴金屬及珠寶首飾材料分析的理想工具
      新款FISCHERSCOPE? X-Ray XAN? 120是一臺款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀(EDXRF)。它特別為快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設(shè)計。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
      XAN? 120測量準確，使用安全簡便，堅固耐用節(jié)省維護費用。而且，它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定。
      無論您想測量未知樣品還是測定未知材料，XAN? 120 配合優(yōu)異的菲希爾 WinFTM? 運行軟件都是您正確的選擇。
      采用新改進的基本參數(shù)法，無論是無標準片測量還是有標準片測量，都能快速并且準確的獲得測量結(jié)果。為了簡化樣品放置，X射線源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN? 120 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術(shù)。
      集成了含十字線、射線位置指示標志、光亮及位置調(diào)節(jié)的視頻顯微系統(tǒng)，將使得樣品的放置和測量定位變得快捷而容易?，F(xiàn)在您不再需要調(diào)節(jié)測量臺或是樣品臺——只需放下樣品即可開始測量。
        長期的穩(wěn)定性和出色的精確度——對于金優(yōu)于1‰——是 XAN? 120的優(yōu)勢所在。而且，由于不需要經(jīng)常進行再校準，從而節(jié)省了使用者的時間、精力及經(jīng)營成本。測量結(jié)果可以以Karat、 ‰ 或重量 %顯示，并且可以按客戶報表打印輸出。
      優(yōu)秀的人體學設(shè)計，簡單的操作即測量結(jié)果的快速計算是對XAN? 120最好的描述。使用安全而簡單——無論是對經(jīng)驗豐富還是接受較少培訓的員工都是如此。不需要為XAN? 120特別設(shè)置一個實驗室房間。如果您需要一臺出色、準確可靠的測量儀器，XAN? 120 是您正確的選擇。 為個人計算機而設(shè)計的WinFTM? 測試軟件
      先進的Fischer WinFTM? 軟件有著無與倫比的性能：完整、簡單易用而且不需要補充模塊或是軟件升級。軟件包括 ：
      X射線部件的操作
      控制整個測量過程
      先進的基本參數(shù)法可進行無標準片測量
      用受認證的標準片進行校準，可以完成有標準片調(diào)校的測量
      可以同時分析材料成分和測量計算鍍層厚度
      按照元素波峰進行自動元素識別
      測量值可以以karat， wt% 或 ‰表示
      客戶自定義報表工具
  2、FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL X射線光譜儀
      FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 是一款適用于大批量材料分析的X-射線光譜儀。
      由于可檢測元素范圍寬至從鋁到鈾，使得FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 的應(yīng)用范圍延伸至從工業(yè)到科學領(lǐng)域。無論分析應(yīng)用于冶金上的，地質(zhì)上的，石化上的還是其它種類的材料，F(xiàn)ISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 都是一款強有力的和經(jīng)濟的光譜儀。
      內(nèi)置的彩色視頻頭使得X-射線光束快速和精確地定位于被測工件上需要分析的范圍。該儀器所提供的性能和特征的集合是在同樣價格范圍內(nèi)的材料分析儀中無法找尋到的。
      大測量箱，可編程的X-Y工作臺，X-射線從上往下的設(shè)計，X-射線發(fā)生管和接受器裝配系統(tǒng)的Z-軸運行使得設(shè)備非常適合于幾個被測物體的編程測量和掃描較大工件。
      獨特的WinFTM? V6 i軟件是該儀器的核心。它可以分析多達24種元素的材料，無須校驗標準塊，帶預估測量精度，以及測量非常復雜的鍍層系統(tǒng)。
      3、XDV?-SDD X-射線光譜儀
      您的產(chǎn)品符合RoHS指令嗎？
      您收到的黃金與你所付出的相一致嗎?
      您的電鍍過程是否節(jié)省成本并且可靠呢?
      該款儀器特別為頗具挑戰(zhàn)性的RoHS/ WEEE分析而研發(fā)。而且，它還十分適合于測量黃金及其他貴金屬，分析金的成分重復性可達0，5 ‰。
      對于鍍層：不僅可以測量其成分比例，還可以測量器厚度!
      XDV?-SDD 是一款真正全能的測試儀器!
      RoHS / WEEE
      可靠地測量Pb， Hg， Cd， Br及Cr元素。在塑料中可達到的測量下限Pb為2 ppm，對Cd為10 ppm。
      RoHS / WEEE對Pb的限制為1000 ppm以及對Cd為100 ppm，儀器能可靠地予以驗證。
      塑料樣品可以不考慮其厚度而進行準確分析。
      即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統(tǒng)也可以高精度地分析。
      XY(Z)平臺可用來自動掃描印刷線路板。
      WinFTM? V.6 BASIC軟件
      在一次測量過程中，最多可測定包括鍍層厚度和元素成分比例在內(nèi)多達24個特征參數(shù)。
      可測的鍍層厚度小至10納米。
      大多數(shù)情況下，復雜的多鍍層系統(tǒng)可以在無標準片（無調(diào)校）模式下高精度地分析。
      每個程式在使用最多64片標準片下，可達到最高的準確度。
      這同時也保證了測量結(jié)果的可追溯性。
      X射線校準標準片提供DKD 校準證書，遵循DIN EN ISO/IEC 17025標準。
      WinFTM? V.6 軟件能精確測量從幾個ppm到100%的成分含量。
      4、XAN? 150X射線光譜儀
      XAN? 150特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層的結(jié)構(gòu)十分復雜或是組分含量非常微小，XAN150都能準確測量。
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