TSI3910納米顆粒粒徑譜儀特點與優(yōu)勢

實時納米尺寸的測量理想的應(yīng)用需求的可移植性 道路工作場所調(diào)查領(lǐng)域的研究點源識別允許用戶從多個站點收集更多的數(shù)據(jù)開辟了同步的時間和空間測量的可能性提供了新的研究機遇進入納米微粒的發(fā)射/曝光測量和納米技術(shù)易于學生和工人操作簡化數(shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)報告里是否有管理軟件 

TSI3910納米顆粒粒徑譜儀產(chǎn)品詳情

TSI3910型NanoScanSMPS打開納米顆粒粒徑常規(guī)測量的大門。這一革命性的粒徑譜儀將TSI公司的SMPSTM粒徑譜儀集成在約一個籃球大小的便攜箱內(nèi)。容易使用，重量輕，電池供電等優(yōu)點使NanoScanSMPS讓研究人員多點采集納米顆粒粒徑分布數(shù)據(jù)成為可能。由TSI核心技術(shù)中衍生而來，NanoScanSMPS是一個創(chuàng)新的，低成本的實時納米粒徑測量的有效解決方案。新型的3914將納米顆粒粒徑譜儀和光學顆粒物粒徑譜儀整合在一起，可以實現(xiàn)經(jīng)濟、便攜、實時的測量10納米到10微米大小的粒子。

 TSI3910納米顆粒粒徑譜儀應(yīng)用

一般的應(yīng)用研究室內(nèi)/室外空氣質(zhì)量調(diào)查納米/納米顆粒的應(yīng)用燃燒和排放的研究移動研究 健康影響/吸入毒理學 職業(yè)衛(wèi)生/工作場所暴露監(jiān)測 點源識別  

TSI3910納米顆粒粒徑譜儀所含項

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