深圳市禾苗分析儀器有限公司是一家以ROHS測試儀的區(qū)別在哪、膜厚儀x2034d9n和合金分析儀為主要業(yè)務(wù)的公司。我們致力于提供有優(yōu)質(zhì)的國產(chǎn)鍍層測厚儀服務(wù)。深圳市禾苗分析儀器有限公司成立于2012-06-05，作為一家社會責(zé)任感強(qiáng)的公司，禾苗分析將依托強(qiáng)大的實(shí)力，在鍍層測厚儀器領(lǐng)域內(nèi)樹立最具口碑的品牌形象。

   創(chuàng)新是深圳市禾苗分析儀器有限公司成功的基石。在未來，禾苗分析也希望不斷地創(chuàng)新，為廣大顧客提供XRF服務(wù)。多年來，禾苗分析始終相信只有堅(jiān)持創(chuàng)新和專業(yè)，才能更好的滿足客戶對xrf報告的需求。 延伸拓展 詳情介紹：膜厚測試儀校準(zhǔn)方法 膜厚測試儀校準(zhǔn)方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進(jìn)行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應(yīng)得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)膜片，進(jìn)行滿度校準(zhǔn)。 2．2先將標(biāo)準(zhǔn)膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標(biāo)準(zhǔn)膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標(biāo)準(zhǔn)膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準(zhǔn)確性，可通過多次測同一標(biāo)準(zhǔn)膜片來驗(yàn)證。

   禾苗分析商務(wù)依據(jù)專業(yè)知識用心研究儀器儀表的每個項(xiàng)目方案，爭取實(shí)現(xiàn)做一個項(xiàng)目，樹一個口碑。儀器儀表項(xiàng)目經(jīng)歷都承載著一份真誠，記載著一份榮譽(yù)。禾苗分析員工始終實(shí)踐著“工作認(rèn)真、深入人心”的人文理念和工作作風(fēng)。以上內(nèi)容只是禾苗分析儀器儀表項(xiàng)目的部分信息，想要了解更多內(nèi)容，請來電咨詢：0755-96219363，或登錄公司官網(wǎng)：heleex。