深圳市禾苗分析儀器有限公司是一家以最熱門的鹵素檢測儀、國產鍍層測厚儀和XRF為主要業(yè)務的公司。我們致力于提供有優(yōu)質的鍍層測厚儀器服務。深圳市禾苗分析儀器有限公司成立于2012-06-05，作為一家社會責任感強的公司，禾苗分析將依托強大的實力，在X熒光光譜儀領域內樹立最具口碑的品牌形象。

   深圳市禾苗分析儀器有限公司堅持走社會效益、經濟效益與環(huán)境效益并重的企業(yè)發(fā)展之路，立足于商務服務行業(yè)，努力追求管理技術創(chuàng)新，不斷拓展服務領域，積極營造溫馨的文化氛圍，為您提供高性價比的RoHS檢測產品，并樹立禾苗分析禾苗HELEEX品牌形象。 延伸拓展 產品詳情：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據要測量的涂層厚度，選擇 適當的標準膜片，進行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

   禾苗分析秉承“顧客至上，銳意進取”的經營理念，堅持“客戶第一”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質的鍍層測厚儀器、元素分析儀x2034d9n等產品和服務。歡迎廣大客戶惠顧！官網地址：heleex