深圳市禾苗分析儀器有限公司的光譜儀、ROHS儀x2034d9n深受廣大客戶的喜愛，公司與客戶建立了長(zhǎng)期穩(wěn)定的合作關(guān)系。禾苗分析提供的膜厚分析儀、合金分析儀解決了廣大客戶的需求。禾苗分析實(shí)力雄厚，重信用、守合同、以優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和誠(chéng)實(shí)守信的原則，贏得了廣大客戶的信任。

   目前禾苗分析已與數(shù)百家客戶建立并保持了良好的合作關(guān)系，合金分析儀、XRF等優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)深受客戶的認(rèn)可。 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測(cè)試儀校準(zhǔn)方法 膜厚測(cè)試儀校準(zhǔn)方法 1儀器校零 1．1將測(cè)量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測(cè)量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進(jìn)行校零。在按ZERO鍵時(shí)，測(cè)量探頭在鐵基上不要晃動(dòng)。同時(shí)要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測(cè)量探頭提起（或不帶涂層的測(cè)量體上），觀察鐵基上的測(cè)量值，若測(cè)量值在0附近，說明校零成功，否則，應(yīng)得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測(cè)量的涂層厚度，選擇 適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)膜片，進(jìn)行滿度校準(zhǔn)。 2．2先將標(biāo)準(zhǔn)膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測(cè)量體上）。 C2．3再將測(cè)量探頭壓在標(biāo)準(zhǔn)膜片上，測(cè)量值就顯示在顯示器上，若測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)膜片不同，測(cè)量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時(shí)，測(cè)量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準(zhǔn)確性，可通過多次測(cè)同一標(biāo)準(zhǔn)膜片來驗(yàn)證。

   禾苗分析采取全球網(wǎng)絡(luò)跟蹤售后服務(wù)，只要購(gòu)買了禾苗分析的產(chǎn)品，就成為禾苗分析永久的客戶，享受全方位的售后服務(wù)。我們將以“優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品品質(zhì)和人性化的服務(wù)”，讓消費(fèi)者信賴。想了解更多信息，請(qǐng)?jiān)L問：heleex，或撥打VIP專線：0755-96219363